No âmbito da unidade curricular de Metrologia Aplicada II, do mestrado em Engenharia de Instrumentação e Metrologia, Fernando Ferreira, do Centro de Apoio Tecnológico à Indústria Metalomecânica (CATIM), irá realizar uma palestra sobre o tema "A Ótica no Suporte aos Processos Metrológicos". Esta palestra, com a duração de uma hora, decorrerá na próxima sexta-feira, 12 de junho, pelas 17:00, na sala do Departamento de Física, H523.
Instituto Superior de Engenharia do Porto